渦流測厚儀是利用一個帶有高頻線圈的探頭來產生高頻磁場，使置于探頭下方的待測試樣內產生渦流。這種渦流的振幅和相位是探頭和待測試樣之間的非導電鍍層厚度的函數。鍍層厚度可從測量儀器上直接讀得。

本方法可測量非磁性金屬基體上非導電鍍層（如鋁陽極氧化膜的測厚）、非導體上單層金屬鍍層，以及非磁性基體與鍍層間電導率相差較大的鍍（涂）層厚度。影響測量精度的因素與磁性法相似。渦流測厚除了受基體電導率、基體厚度、鍍層厚度影響外，還受試樣的曲率、表面粗糙度、邊緣效應和加在探頭上壓力大小的影響。測試誤差在10%以內。厚度小于3μm的鍍層測量精度偏低。